SEMICON WEST，7月11日至13日，1561號(hào)展位
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Semicon West USA, San Francisco，–1561展位的一系列創(chuàng)新產(chǎn)品
如果你計(jì)劃參加今年在加利福尼亞州舊金山舉行的Semicon West展會(huì)，請(qǐng)務(wù)必參觀Seica展臺(tái)–#1561！Seica USA是Osai Automation Systems和Focused Test Inc.半導(dǎo)體測(cè)試解決方案的獨(dú)家經(jīng)銷商。Seica與這些聯(lián)合參展商在一個(gè)大型展位上合作，提供各種半導(dǎo)體處理和功率、GaN和SiC測(cè)試解決方案。而且，作為飛針測(cè)試技術(shù)的世界引領(lǐng)者，Seica是客戶尋找尖端晶圓、探針卡和電路板測(cè)試解決方案的地方。
聚光燈下——Seica的飛針測(cè)試儀Pilot VX Next>系列
飛針測(cè)試儀Pilot VX Next>系列代表了飛針測(cè)試技術(shù)的最新前沿；它是那些想要最大性能的人的完整解決方案：最高的測(cè)試速度、低到中等體積的測(cè)試、最大的測(cè)試覆蓋率和靈活性，用于原型設(shè)計(jì)、制造或修復(fù)任何類型的探針卡、晶片、基板或CCA。它的立式結(jié)構(gòu)是同時(shí)探測(cè)設(shè)備兩側(cè)的最佳解決方案。Seica的Pilot VX Next系列將用于測(cè)試陶瓷晶片，同樣的配置用于測(cè)試當(dāng)今世界上生產(chǎn)的最復(fù)雜的探針/MLO板。
飛針測(cè)試儀Pilot VX Next>系列適用于：
晶片測(cè)試
探針卡/MLO測(cè)試
產(chǎn)品驗(yàn)證測(cè)試
無矢量和電路內(nèi)測(cè)試
編程和功能測(cè)試
邊界掃描測(cè)試
帶自動(dòng)加載器的中/高容量
高度集成的原型
多品種產(chǎn)品
未設(shè)計(jì)用于測(cè)試的板
反求工程與維修
聚光燈下——聚焦測(cè)試公司（Focused Test，Inc.）FTI 1000和FTI2000
Focused Test股份有限公司宣布推出FTI 2000 Power IC測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)將由我們的美國(guó)分銷商Seica Inc.在展臺(tái)上展出。
FTI2000憑借其每通道板測(cè)試儀系統(tǒng)架構(gòu)，為穩(wěn)壓器、電壓轉(zhuǎn)換器和柵極驅(qū)動(dòng)器等功率IC提供了高吞吐量、低成本和可擴(kuò)展的測(cè)試解決方案。FTI 2000提供最新功率IC的多站點(diǎn)生產(chǎn)、工程表征和故障分析測(cè)試所需的高電壓（1000V）、高電流（100A）和100MHz數(shù)字性能。其占地面積小，有效利用了寶貴的測(cè)試場(chǎng)地空間。
Focused Test繼續(xù)擴(kuò)展FTI 1000功率離散測(cè)試系統(tǒng)的范圍，以滿足SiC Mosfet和GaN HEMT寬帶隙功率市場(chǎng)的需求，包括更高電壓和更高電流的DC和UIS、Delta Vsd和短路測(cè)試。
SEMICON West是全球微電子行業(yè)首屈一指的年度盛會(huì)。SEMICON West 2023將于7月11日至13日返回莫斯科會(huì)議中心。由于美國(guó)政府對(duì)《芯片與科學(xué)法案》的2.8億美元投資，今年應(yīng)該比往年更好。請(qǐng)光臨我們的展位#1561，Seica副總裁David Sigillo及其團(tuán)隊(duì)期待并歡迎您參加演示，并幫助您解決最具挑戰(zhàn)性的測(cè)試和自動(dòng)化需求。